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叶片固有频率测试分析已成为叶片检验程序中必不可少的环节之一。测试方法多采用频谱分析法,即给叶片一个初始位移(或力)激励,使其产生衰减振动,叶片振动测量系统,通过测量叶片的位移响应并对其进行频谱分析,即得到被测叶片的固有频率。测试设备主要包括位移传感器、数据采ji器和频谱分析软件。现有的测试系统没有充分考虑叶片频率测试分析的特殊性,不构成一个完整的---测试分析系统。
叶片振动
腐蚀系数,kz为表面系数,kd为尺寸系数,这些是对耐振强度的修正系数;k3为有效应力集中系数,k.为通道系数,k。为流场不均匀系数,k,为成组形响系数,这些是对蒸汽弯应力的修正系数。100200即0月佣日阅日加700翻〕200100。节杂振动而难以分开,按其各种振型固有振动频率从低到离依次排列称为一阶、二阶、三阶、……振型。对整圈连接叶片组也与叶轮振动一样,存在一系列不同节径数m的振型,全周共有zm只叶片不参与振动,其余叶片在节径两侧振动,相位相反。其频谱和振型比其他型式叶片组的复杂。叶片和叶片组的振型很多,在设计时不必对所有的振型加以校核。实践经验证明,只有a。、b。、za。、a、型是危险的,一般情况下,都必须调开共振,只有当叶片的蒸汽弯应力较小时才允许在共振下运行。静级率和动颇率分别指叶片在静止和运行状态时的固有振动频率。
采样的时间间隔 δt 决定着采样的和数据处理的总时间。δt 太小,会使x(nδt)的数目剧增,增加了数据处理的工作量,并要求计算机的容量要大;但δt 太大,会在原始数据中引起低频和高频分量的混淆,不能真实反映原信号x(t)的全部情况,影响分析的精度。lms scadsⅲ316每通道有独立的16bita/d,有dsp 功能,采样频率为200ks/s,通过scsi 接口直接传送到硬盘。---适合高速、大容量数据采集。
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