善测科技-叶片振动测量

采样的时间间隔 δt 决定着采样的和数据处理的总时间。δt 太小，会使x（nδt）的数目剧增，增加了数据处理的工作量，并要求计算机的容量要大；但δt 太大，会在原始数据中引起低频和高频分量的混淆，不能真实反映原信号x（t）的全部情况，影响分析的精度。lms scadsⅲ316每通道有独立的16bita/d，有dsp 功能，采样频率为200ks/s，通过scsi 接口直接传送到硬盘。---适合高速、大容量数据采集。

叶片固有频率测试分析已成为叶片检验程序中必不可少的环节之一。测试方法多采用频谱分析法，即给叶片一个初始位移(或力)激励，使其产生衰减振动，叶片振动测量，通过测量叶片的位移响应并对其进行频谱分析，即得到被测叶片的固有频率。测试设备主要包括位移传感器、数据采ji器和频谱分析软件。现有的测试系统没有充分考虑叶片频率测试分析的特殊性，不构成一个完整的---测试分析系统。